58层ATE(自动测试设备)负载PCB线路板是专为半导体测试系统设计的高端多层电路板,具备超高层数、精密布线和大尺寸承载能力。该产品通过58层电路层叠实现复杂信号传输与电力分配,满足高端芯片测试设备对信号完整性、散热性能及机械稳定性的严苛要求。
层间对准精度≤25μm
差分对阻抗控制±5%
电源层分割优化(PDN阻抗<1mΩ)
热膨胀系数匹配设计(CTE 14-16 ppm/℃)
散热通孔阵列(每平方英寸≥400个)
串扰抑制<-50dB@10GHz
时延偏差<5ps/inch
参数项 | 规格值 | 技术意义 |
---|---|---|
层数 | 58层 | 支持超复杂电路架构 |
板厚 | 230mil (5.84mm) | 增强机械稳定性 |
最小孔径 | 5mil (0.127mm) | 实现微间距元件焊接 |
BGA间距 | 0.8mm | 支持高密度芯片封装 |
纵横比 | 23.4:1 | 超深微孔加工能力证明 |
钻孔-铜距 | 7mil | 防止钻孔破孔风险 |
表面处理 | ENEG+TG+ENIG | 三重防护增强抗氧化性 |
FR4 Tg185环氧树脂:玻璃化转变温度185℃,Z轴CTE<3%
低损耗介质层(Df≤0.008@1GHz)
层压工艺
采用顺序层压技术(3次压合)
层间对准精度控制≤30μm
钻孔技术
激光钻孔+机械钻孔组合工艺
孔壁粗糙度≤20μm
表面处理
化学镀镍浸金(ENIG)厚度:Ni 3-5μm/Au 0.05-0.1μm
抗氧化处理(TG)耐湿热测试>1000hr
耐温等级:-55℃~+185℃持续工作
绝缘电阻>10^12Ω
热冲击测试:1000次循环无分层
半导体测试设备
探针卡接口板
测试头信号分配模块
高端通信系统
400G光模块背板
5G基站功放测试接口
航空航天电子
星载计算机测试平台
航空电子系统验证设备
铜箔粗化处理(Ra≥3μm)
半固化片预烘(120℃/2hr)
LDI直接成像(分辨率≤10μm)
脉冲电镀铜(厚度均匀性±5%)
真空热压(压力30kg/cm²,温度180℃)
冷却速率控制≤3℃/min
3D X射线检测(缺陷识别率>99.9%)
飞针测试(测试覆盖率100%)
支持10,000+测试通道并行运行
信号传输损耗<0.5dB/inch@10GHz
生命周期>15年(MTBF>100,000小时)
UGPCB专业制造20层MLO半导体测试电路板,采用BT+ABF基材,最小过孔25μm,L/S 18/18μm,支持55μm C4 Pitch,位置精度6.3μm,适用于晶圆测试/封装测试/可靠性验证,提供定制化高频PCB解决方案,助力半导体产业升级。
UGPCB 32层MLO半导体测试PCB采用BT+ABF材质,32层(13+6+13)结构,支持35μm微孔与80μm C4间距,厚度仅1.2mm,定位公差6.3μm,专用于高频芯片测试与先进封装验证,提供高密度布线与超低信号损耗解决方案。
UG公司专业生产ATE负载PCB线路板,专用于半导体成品测试(FT),适配BGA、QFN等封装形式,支持高压、高速信号测试。产品采用62层FR4 HTg基材,厚度250 mil,集成POFV填孔与背钻工艺,最小孔径8 mil,BGA间距0.65mm,确保高频低损耗与长期稳定性。具备优异信号完整性、多电…
ATE探针卡板是半导体测试领域的关键组件,主要用于晶圆检测(CP)阶段,通过高精度探针与晶圆上的芯片焊盘接触,完成电性能测试。其核心功能是实现芯片与测试机之间的信号传输,筛选出合格芯片,确保后续封装良率。