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62层ATE负载PCB板

62层ATE负载PCB板原图
UG公司专业生产ATE负载PCB线路板,专用于半导体成品测试(FT),适配BGA、QFN等封装形式,支持高压、高速信号测试。产品采用62层FR4 HTg基材,厚度250 mil,集成POFV填孔与背钻工艺,最小孔径8 mil,BGA间距0.65mm,确保高频低损耗与长期稳定性。具备优异信号完整性、多电…
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62层ATE负载PCB板商品详情

商品特点

ATE负载PCB线路板产品概况

ATE负载PCB线路板是半导体成品测试(FT)的核心载体,用于连接测试机与芯片封装引脚,通过模拟实际工作环境验证芯片性能。其核心作用是确保芯片功能、功耗及稳定性符合设计标准,为量产提供可靠筛选依据。

产品定义与分类

该产品属于高复杂度多层电路板,根据测试阶段可分为功能测试板、老化测试板及系统级测试板,适配不同封装形式(如BGA、QFN)和测试需求(如高压、高速信号)。

ATE负载PCB设计要点与技术参数

设计聚焦信号完整性、散热及耐久性。核心参数包括:62层叠构,尺寸16.9”×22.9”,厚度250 mil;采用FR4 HTg基材,最小孔径8 mil,BGA间距0.65mm,支持32:1厚径比;钻孔至金属层间距7 mil,集成POFV(电镀填孔)与背钻工艺,表面处理为ENEG(化学镍钯金),确保高频低损耗与长期稳定性。

结构与工作原理

由高密度布线层、电源分配网络、散热结构及测试接口组成。测试时,负载板将测试机信号传输至芯片引脚,实时监测电流、电压及信号时序,通过数据分析识别缺陷芯片。背钻技术可消除高速信号反射,提升测试精度。

ATE负载PCB线路板材质与性能优势

FR4 HTg基材耐高温(Tg≥180℃),抗弯曲性强,适用于多循环测试场景。POFV填孔减少层间阻抗,背钻工艺优化高频信号完整性;ENEG表面处理降低接触电阻,抗氧化能力优于传统镀金,适配超万次插拔测试。

生产流程与工艺难点

流程涵盖PCB设计仿真→层压→激光/机械钻孔→填孔电镀→背钻→图形蚀刻→ENEG镀覆→功能测试。难点包括62层层间对准精度控制(≤15μm)、250 mil超厚板钻孔防偏斜,以及背钻深度精准管控(误差<5%),需依赖高精度设备与工艺仿真补偿技术。

应用场景与特点

广泛应用于5G基站芯片、AI加速卡、汽车MCU等领域的成品测试,支持10A以上大电流、56Gbps高速信号测试。其特点为:超高层数布线能力、多电源域独立调控、优异散热设计,兼容Teradyne、Advantest等主流测试机台,助力客户实现高效率、高覆盖率测试方案。


商品参数

层数:62层
尺寸:16.9" × 22.9"
厚度:250 mil
PCB材质:FR4 HTg
最小孔径:8 mil
BGA间距:0.65mm
纵横比:32:1
钻孔至金属层:7 mil
POFV:是
背钻:是
表面处理:ENEG

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