该产品属于高复杂度多层电路板,根据测试阶段可分为功能测试板、老化测试板及系统级测试板,适配不同封装形式(如BGA、QFN)和测试需求(如高压、高速信号)。
设计聚焦信号完整性、散热及耐久性。核心参数包括:62层叠构,尺寸16.9”×22.9”,厚度250 mil;采用FR4 HTg基材,最小孔径8 mil,BGA间距0.65mm,支持32:1厚径比;钻孔至金属层间距7 mil,集成POFV(电镀填孔)与背钻工艺,表面处理为ENEG(化学镍钯金),确保高频低损耗与长期稳定性。
由高密度布线层、电源分配网络、散热结构及测试接口组成。测试时,负载板将测试机信号传输至芯片引脚,实时监测电流、电压及信号时序,通过数据分析识别缺陷芯片。背钻技术可消除高速信号反射,提升测试精度。
FR4 HTg基材耐高温(Tg≥180℃),抗弯曲性强,适用于多循环测试场景。POFV填孔减少层间阻抗,背钻工艺优化高频信号完整性;ENEG表面处理降低接触电阻,抗氧化能力优于传统镀金,适配超万次插拔测试。
流程涵盖PCB设计仿真→层压→激光/机械钻孔→填孔电镀→背钻→图形蚀刻→ENEG镀覆→功能测试。难点包括62层层间对准精度控制(≤15μm)、250 mil超厚板钻孔防偏斜,以及背钻深度精准管控(误差<5%),需依赖高精度设备与工艺仿真补偿技术。
广泛应用于5G基站芯片、AI加速卡、汽车MCU等领域的成品测试,支持10A以上大电流、56Gbps高速信号测试。其特点为:超高层数布线能力、多电源域独立调控、优异散热设计,兼容Teradyne、Advantest等主流测试机台,助力客户实现高效率、高覆盖率测试方案。
ATE探针卡板是半导体测试领域的关键组件,主要用于晶圆检测(CP)阶段,通过高精度探针与晶圆上的芯片焊盘接触,完成电性能测试。其核心功能是实现芯片与测试机之间的信号传输,筛选出合格芯片,确保后续封装良率。